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XT H 450 LC
栏目: X射线和CT检测 发布时间:2018-05-03
XT H 450 LC,用于叶片和铸件的CT检测,带有高功率450kV微焦点X射线源

XT H 450 LC,用于叶片和铸件的CT检测,带有高功率450kV微焦点X射线源

Metris XT H 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源,可提供超高分辨率和超高精度。

    弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象,优化了X射线图像的采集,散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备,可处理小金属件到大金属件,例如叶片、铸件等