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XT H 450 LC
栏目： X射线和CT检测
发布时间：2018-05-03
XT H 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测，带有高功率450kV微焦点X射线源
XT H 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测，带有高功率450kV微焦点X射线源
Metris XT H 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源，可提供超高分辨率和超高精度。
弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象，优化了X射线图像的采集，散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备，可处理小金属件到大金属件，例如叶片、铸件等
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